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X射线衍射仪 Ultima IV系列组合式多功能

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所属分类:X射线衍射仪
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组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学*的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。

X射线衍射仪 Ultima IV系列组合式多功能的详细资料:



一、仪器简介

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学*的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。

 

二、技术参数

1. X射线发生器功率为3KW

2. 测角仪为水平测角仪

3. 测角仪zui小步进为1/10000

4. 测角仪配程序式可变狭缝

5. 高反射效率的石墨单色器

6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)

7. 小角散射测试组件

8. 多用途薄膜测试组件

9. 微区测试组件

10. In-Plane测试组件(理学独有)

11. 高速探测器D/teX-Ultra

12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC

13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

 

三、主要特点

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。

可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

       主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析

 

 


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